高橋研究室ではX線回折や電子線回折、走査型トンネル顕微鏡を用いて、固体表面や界面に形成する超構造の構造解析や、表面ダイナミクスの研究を行っています。
また、 X線回折を用いた新しい物質評価法の開発や、X線光学の研究も進めています。
