◯ X線回折散乱過程の研究
原子面によるX線の散乱について1(一般的な配置)
原子面によるX線の散乱について2(すれすれ入射条件)
光学のフレネルの反射率の式とX線ロッキング曲線との関係
X線や中性子の反射曲線(ロッキング曲線)について
(ダーウィンの反射曲線とエワルトの反射曲線の関係)
X線のロッキング曲線と表面回折(CTR散乱)
(運動学的回折と動力学的回折)
◯ X線回折を利用した新しい物質評価法の開発
ブラッグ反射励起条件におけるCTR散乱の測定による表面極微小歪みの観測
ブラッグ反射励起条件にける鏡面反射の測定:SiO2酸化膜による散乱波の位相決定
ホログラフィック表面原子イメージング法によるSi(001)面上のGe原子像
表面X線回折を利用するホログラフィックな表面原子イメージング法 の開発
蛍光X線ホログラフィの開発
X線定在波法と逆X線定在波法(コッセル線法)
◯ X線領域における非線形光学など新しい光学分野の開拓
X線非線形現象の研究
◯ 中性子光学、中性子干渉計の開発
干渉計による磁気散乱振幅の測定
極小角散乱装置の開発